电子元器件特别是电容器已经应用的越来越广了，同时需要面对各种考验也越来越多，有物理的摔落、环境温度湿度的影响、、化学的腐蚀、电流电压不稳等各种因素影响，电容器备受考验，故障也随之增加，同时寿命在减少。因此估算多层陶瓷电容器的寿命，在寿命结束前及时更换，可避免不少的故障和意外。
一般情况下，多层陶瓷电容器由电介质构成，具有极高可靠性。在使用时，周围环境的温度会随之升高，在陶瓷材料内部含量极少的原子等级的电荷缺陷会从正极向负极移动，结晶构造内部包含了极少量的氧空位。由此可看出，多层陶瓷电容器的寿命由陶瓷材料中氧空位的移动速度与量决定，我们应将产品使用时的环境温度与负荷电压作为参数，采用以下的公式进行寿命的估算：
此时，电容器的加速试验中耐久试验时间表示为LA，实际使用环境下的相当年数表示为LN，来用于上述公式。通过这个关系式，在更高的温度、更高的电压进行加速试验，可预估产品在实际使用环境下的耐用年数。
