薄膜电容是一种被广泛使用的电子元器件，它是以金属箔当电极，将其和聚乙酯，聚丙烯，聚苯乙烯或聚碳酸酯等塑料薄膜，从两端重叠后，卷绕成圆筒状的构造的电容，在使用中我们会遇到薄膜电容故障的问题，所以我们有必要了解一些薄膜电容的基础检测方法。
10pF以下的薄膜电容容量太小，用万用表进行测量，只能定性的检查其是否有漏电，内部短路或击穿现象。测量时，可选用万用表R×10k挡，用两表笔分别任意接电容的两个引脚，阻值应为无穷大，若测出阻值(指针向右摆动)为零，则说明薄膜电容漏电损坏或内部击穿。
检测10pF～0.01uF的CBB电容器可以通过是否有充电现象去判断其好坏。万用表选用R×1k挡，两只三极管的β值均为100以上，穿透电流要小。万用表的红和黑表笔分别与复合管的发射极e和集电极c相接。由于复合三极管的放大作用，把被测薄膜电容的充放电过程予以放大，使万用表指针摆幅度加大，从而便于观察。
应注意的是：在测试时，特别是在测较小容量的电容时，要反复调换被测电容引脚接触A、B两点，才能明显地看到万用表指针的摆动。对于0.01uF以上的薄膜电容，可用万用表的R×10k挡直接测试薄膜电容有无充电过程以及有无内部短路或漏电，并可根据指针向右摆动的幅度大小估计出薄膜电容的容量。
